Изучение свойств солнечных элементов включает в себя измерение спектральной чувствительности, коэффициента собирания и вольт — амперной световой нагрузочной характеристики (а также темновой при различных значениях напряжения, приложенного в прямом и обратном направлениях [15—22,69—71]),исследование спектрального распределения коэффициентов отражения, пропускания и поглоще­ния (в основном для селективных оптических покрытий [23]), про­ведение рентгеновского и физико-химического анализа состава и структуры полупроводниковых материалов и слоев [247, 248]. Осо­бый интерес представляют некоторые нетрадиционные оптические и электронно-микроскопические методы исследования свойств солнеч­ных элементов и их отдельных слоев при изучении элементов ив различных монокристаллических и тонкопленочных полупроводнико­вых материалов.