Как выбрать гостиницу для кошек
14 декабря, 2021
Спектральная чувствительность солнечного элемента представляет собой спектральную зависимость его тока короткого замыкания, рассчитанного на единицу энергии падающего оптического излучения.
Рис. 1.25. Схема установки для! измерения спектральной чувствительности солнечных элементов
1 — источник света;
2 — монохроматор;
3 — сменные оптические фильтры;
4 — линзы,
5 — 6 — измеряемый и эталонный
солнечные элементы соответственно (при градуировке термоэлемент);
7 — потенциометр;
8 — вольтметр,
9 — амперметр;
10 — 12 — резисторы сопротивлением
Ri—R3 соответственно,
13 — источник компенсирующего
напряжения (Б7=1,5 В)
Рис. 1.26. Оптическая схема зеркального монохроматора ЗМР-З
1 — входная щель, пропускающая
излучение источника;
2 — зеркальный объектив;
3 — призма;
4 — поворачивающееся плоское
зеркало (зеркало Литтрова); ч
5 — плоское зеркало;
6 — выходная щель
Для обычных, не прецизионных измерений спектральной чувствительности используется зеркальный монохроматор ЗМР-З со стеклянной оптикой (рис. 1.25). Источником света служит ленточная вольфрамовая лампа накаливания типа СИ-6-40 (мощностью 36 Вт), тело накала которой с помощью зеркального эллиптического отражателя проектируется на входную щель прибора. Стабильность светового потока поддерживается за счет постоянства тока накала лампы (5,8 А), который контролируется амперметром класса 0,2.
Лампа СИ-6-40 дает возможность проводить измерения в видимой и инфракрасной областях спектра (до границы пропускания стекла). При измерениях в ультрафиолетовой области спектра от 0,4 мкм до 0,3 мкм применяется лампа накаливания с увиолевым стеклом, цветовая температура которой 3200 К, а при измерениях в области длин волн менее 0,3 мкм рекомендуется использовать водородную лампу [102], поскольку она дает сплошной спектр и отличается высокой (по сравнению с другими газоразрядными лампами) стабильностью.
Рабочие щели монохроматора ЗМР-З изменялись от 1 мм для области спектра 0,4—0,5 мкм до 0,25 мм в области длин волн больше 0,9 мкм, с тем чтобы спектральная ширина щели оставалась постоянно в пределах 0,01—0,015 мкм. В монохроматоре ЗМР-З изме
нение длины волны осуществляется небольшим поворотом зеркала 4 (рис. 1.26), что позволяет излучению любой выделяемой длины волны проходить через призму с минимальным отклонением от первоначального пути.
Для устранения рассеянного света при измерениях спектральной чувствительности (см. рис. 1.25) в соответствующих областях "спектра используются светофильтры СЗС-8, СЗС-14 и СЗС-12. За выходной щелью монохроматора помещаются две линзы, с помощью которых расходящийся световой поток может быть распределен по всей поверхности или собран на части солнечного элемента. Этот световой поток на определенном расстоянии от второй линзы проецируется в полоску размерами порядка 1,5X9 мм, полностью попадающую на приемную пластину термоэлемента. Затем солнечный "элемент устанавливается на место термоэлемента таким образом, чтобы весь свет, измеренный термоэлементом, вписывался в приемную поверхность солнечного элемента (см. рис. 1.25). Если при определении освещаемой площади с помощью микроскопа окажется, что часть света попадает на контактные полоски солнечного элемента, то освещаемая площадь полос должна, конечно, вычитаться из общей освещаемой площади.
Измерения плотности потока монохроматического излучения могут быть осуществлены, например, с помощью вакуумного компенсационного термоэлемента Козырева марки РТЭ с приемными пластинами размерами 2X12 мм каждая. Термоэлемент включается на вход низкоомного потенциометра. В экспериментах чувствительность одного из, использованных термоэлементов составляла 0,47 В/Вт и периодически проверялась по эталонным светоизмерительным лампам, отградуированным во ВНИИМ им. Менделеева (г. Ленинград) или во ВНИИОФИ (г. Москва) по цветэвой температуре и силе света.
В качестве неселективных могут быть также использованы приемники излучения, основанные на: металлических термопарах [103]; пленочных термоэлементах [104]; полупроводниковых термостолбиках [105]. Градуировку этих приемников полезно осуществить несколькими независимыми методами: применяя эталонную лампу; с помощью встроенной обмотки замещения, по которой пропускается определенный ток [ 105]; используя модель абсолютно черного тела с известной температурой.
При измерениях сначала весь спектр монохроматора от 0,4 до 1,16 мкм градуируется с помощью термоэлемента, а затем на его место устанавливается солнечный элемент, ток короткого замыкания которого измеряется по компенсационной схеме (см. рис. 1.25), Установка и снятие исследуемого элемента после каждого изменения длины волны привели бы к значительно большим погрешностям за счет неточности механических перемещений.
В качестве индикатора нуля используется гальванометр Ml95/2, измерительным прибором может служить микроамперметр М95 с
Рис. 1.27. Спектральная зависимость составляющих легированной (2, 2) и базовой (3, 4) областей в суммарном коэффициенте собирания для солнечных элементов 4 ‘
1,3 — кремний (п — на р-типа);
2, 4 — арсенид галлия (р — на п-типа)
шунтом. В схеме использовались резисторы сопротивлением Д2—100 кОм, i?3— ^3 кОм, Ri — до 10 кОм. Применение такой схемы исключает влияние на измеряемый ток сопротивления микроамперметра. Погрешность измерения фототока лежит в пределах ±10% в области длин волн 0,45—0,5 мкм, не превышает ±5% при А,>0,5 мкм и может возрастать до 30% в области 0,4—0,45 мкм, если измеряются солнечные элементы, имеющие низкую чувствительность в этой области спектра.
Энергия на выходе монохроматора изменялась во всем спектральном диапазоне в пределах 0,002—0,02 мВт (что соответствует потоку фотонов 1,5‘1012—1-Ю14 с-1).
Следует отметить, что из-за нелинейности люкс-амперной характеристики многих солнечных элементов при переходе от низких освещенностей, создаваемых монохроматическим светом, к высоким, характерным для солнечного излучения вне атмосферы или в ясные дни в наземных условиях, особо ответственные прецйггйонные измерения спектральной чувствительности, например для эталонных солнечных элементов, проводятся на усовершенствованных установках.
Абсолютной значение спектральной чувствительности рассчитывается после измерений /я. з(А,) как отношение 1К,3(Х)/Е(Х). Для определения коэффициента собирания (/к.3 на один поглощенный фотон) дополнительно измеряется коэффициент отражения от поверхности солнечных элементов в той же области спектра.
Эксперименты и расчеты показали, что составляющая верхнего легированного слоя кремния в суммарном коэффициенте собирания при переходе к малой глубине залегания р—п-перехода и при увеличении скорости поверхностной рекомбинации начинает уменьшаться [63, 84].
При создании солнечных элементов из арсенида галлия также наблюдается отмеченная тенденция. Гомогенный р—тг-переход в этом материале создается обычно с помощью мелкой термодиффу — зйи цинка — примеси р-типа — в исходный арсенид галлия /г-типа. Однако существенно более высокие значения коэффициента поглощения в арсениде галлия (по сравнению с кремнием) и его резкая спектральная зависимость (см. рис. 1.1) приводят к тому, что почти все фотоактивцое излучение поглощается в верхнем легированном
слое p-типа и собирается из него нижележащим р—гс-переходом в арсениде галлия.
Были выполнены также сравнительные расчеты для солнечных элементов из кремния и арсенида галлия при близкой толщине слоев и одинаковой скорости поверхностной рекомбинации. Результаты этих расчетов показывают, что составляющая базового слоя в суммарном коэффициенте собирания становится заметной лишь в длинноволновой области спектральной чувствительности солнечных элементов из арсенида галлия (рис. 1,27, кривая 4).
По спектральной чувствительности исследованных солнечных элементов в соответствии с методикой, описанной в работе [86], были рассчитаны время жизни и диффузионная длина неосновных носителей в областях по обе стороны р—тг-перехода [106]. Выяснилось, что дополнительная причина столь незначительного влияния базовой области на общий коэффициент собирания в элементах из арсенида галлия — чрезвычайно малая диффузионная длина неосновных носителей в этом материале, не превышающая 1,5 мкм.