При расчете коэффициента отражения по выведенным формулам использовались оптические константы алюминия, серебра и меди из работы [41]. В качестве материала для антипросветляющего слоя интерференционной толщины был выбран MgF2, толщ ина которого 1Я была оптимизирована по формуле (1.24) и составила, например, при отражающем слое из алюминия 0,38 мкм. Среди всех применяемых в настоящее время стабильных диэлектрических пленочных материалов наименьший показатель преломления име­ет MgF2 (nwgFj = 1,38). Был также проведен расчет коэффициента отражения с антипросветляющими диэлектрическими пленками SiO (nSi0 = 1,9) и ZnS («zns 2,3), который показал, что уве­личение отражения для этих пленок меньше, чем для системы с аптипросветляющей пленкой MgF2.

В качестве антипросветляющего слоя пеиптерферепционной толщины использовался полимерный клей на основе прозрачного кремнийорганического каучука с показателем преломления 1,5. Дисперсия показателя преломления полимерного слоя в спек­тральной области 1,1—3,0 мкм не учитывалась.

Результаты расчета коэффициента отражения оптических си­стем трех типов с различными теплоотражающнми металличес­кими покрытиями па тыльной поверхности помещены в табл. 1.5,

А1

Ag

Си

А1

Ag

Си

из которой видно существенное возрастание /? в области 1,2 — 3,0 мкм для систем с аптппросветляющими слоями.

Важно отметить два обстоятельства: 1) технологически удоб­ная приклейка стекла с отражающим слоем с помощью полимер­ного клея позволяет получить к тому же увеличение отражения по сравнению с отражением системы кремний—металл; 2) слой серебра с оптимизированным антипросветляющим слоем MgF2 обеспечивает высокий коэффициент отражения (99,3%) нефото — активного для кремния излучения с X = 1,2 мкм.

Расчет был подтвержден экспериментом, результаты которого будут приведены в главе 4.

1.5.